010-61446422010-61446422
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體材料測(cè)試儀 > JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀 > JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀（銅，導(dǎo)電薄膜）
廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間
2025-02-12訪(fǎng)問(wèn)量
1474
PRODUCT我們相信好的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
ARTICLES致力于成為更好的解決方案供應(yīng)商！
2024-02-22
+2021-06-23
+2022-12-27
+
詳細(xì)介紹
| 品牌 | Grace儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,電子,冶金,航天,汽車(chē) |
JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：金屬電阻，導(dǎo)電膜，金屬涂層
JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導(dǎo)電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設(shè)備，金屬電阻率測(cè)試方案核心原則：一是可以用專(zhuān)門(mén)測(cè)試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測(cè)試范圍能夠更好的為你選配四探針測(cè)試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時(shí)間長(zhǎng)。WDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設(shè)備，也是材料生產(chǎn)廠(chǎng)家和科研的重要設(shè)備。
一、主要應(yīng)用領(lǐng)域：
1、硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
2、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻
3、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量
4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍
1、電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
3、方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
4、電壓量程： 20.00mV～2000mV
5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
7、材料尺寸：直徑：圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，
方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
8、探頭類(lèi)型：
9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線(xiàn)探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線(xiàn)或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
12、外形尺寸：主 機(jī) 220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（高）
凈 重：≤2.5kg
導(dǎo)電金屬箔材
金屬 銅金屬材料
我們專(zhuān)業(yè)提供功能材料測(cè)試設(shè)備及測(cè)試服務(wù)：
二、壓電材料制樣設(shè)備：PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置，PZT-JH20/1型粉末極化裝置
PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置，ZJ-D33-YP15型壓片機(jī)
三、介電材料測(cè)試裝置：GWJDN-600型四通道高溫介電測(cè)試儀，GWJDN-1000型四通道高溫介電測(cè)試儀
四：鐵電材料測(cè)測(cè)試儀：ZT-4A鐵電測(cè)試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)，ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系，DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)，
五、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀
高溫功能材料測(cè)試設(shè)備：
GDPT-900A型高溫D33測(cè)試系統(tǒng)，GWJDN-1000型四通道高低溫介電測(cè)試儀，HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀，JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)，BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)），FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)，TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)，GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng) ，HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測(cè)量系統(tǒng)，PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測(cè)量分析系統(tǒng)，HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀，PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)，HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)，
產(chǎn)品咨詢(xún)
