JK-SEM1900型原位冷熱臺

  JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現(xiàn)有樣品臺上。支持在現(xiàn)有各種掃描電子顯微鏡（蔡司、日立等）適配。

產(chǎn)品特點：

電熱、液氮可實現(xiàn)快速升降溫

可增加試樣溫度監(jiān)測溫度傳感器

溫控精度高±0.1℃，可編程階梯控溫

溫控范圍寬（-185~50℃ / -185~200℃）

可以在較大的電子束流下獲得高質量圖像

可適配SEM定制樣品架，安裝/拆卸過程簡單

制冷完成測試后可快速（60℃/min）升溫達到室溫，正常更換樣品，測試效率高。

產(chǎn)品應用：

產(chǎn)品詳細參數(shù)一覽表：