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GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀（溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數(shù)模型(三組件、四組件)，可協(xié)助客戶仿真組件的等效參數(shù)值。并支持RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC聯(lián)機(jī)能力。

熱刺激電流（Thermally Stimulated Current，TSD）技術(shù)是通過(guò)將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級(jí)內(nèi)的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子發(fā)生松弛，在外電路上產(chǎn)生電流，獲得電流隨溫度的變化關(guān)系的一門技術(shù)。通過(guò)對(duì)所獲得的電流-溫度譜的分析、計(jì)算，可得到捕獲空間電荷和取向偶極分子的束縛能級(jí)、活化能分布和儲(chǔ)存的電荷密度、脫阱電荷的逃逸頻率和平均渡越時(shí)間等參數(shù)，是研究材料內(nèi)部空間電荷

GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗(yàn)儀是一款專用于玻璃熔體電阻測(cè)試的設(shè)備，采用自動(dòng)平衡技術(shù)，具有交流電壓輸出功能，頻率可調(diào)，可測(cè)試不同電流及頻率下的電阻率數(shù)據(jù)，加熱及溫控系統(tǒng)數(shù)據(jù)穩(wěn)定，可以設(shè)置不同溫度及升溫速率，是研究玻璃熔體電阻率的重要設(shè)備。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介 GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面?；赪indows10操作系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。 T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷:中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測(cè)和分析兩種界面。

TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測(cè)試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來(lái)分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點(diǎn)。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測(cè)量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測(cè)量設(shè)備。

HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，