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  • 提供CNAS計(jì)量認(rèn)證報(bào)告高溫電阻率測試儀
    提供CNAS計(jì)量認(rèn)證報(bào)告高溫電阻率測試儀

    HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備,可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,最大2000V,最快6.4ms的采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量,作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,最高2×10^19 Ω顯示,最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路,

    更新時(shí)間:2025-02-12型號:瀏覽量:1041
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  • 材料高低溫電阻率測試儀(-160℃-600℃)
    材料高低溫電阻率測試儀(-160℃-600℃)

    HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進(jìn)行測試,可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅(si)、鍺(ge),化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦(InSb),三元化合物半導(dǎo)體GaAsA

    更新時(shí)間:2025-02-12型號:瀏覽量:1250
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  • HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀
    HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀

    HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進(jìn)行測試,可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅(si)、鍺(ge),化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦(InSb),三元化合物半導(dǎo)

    更新時(shí)間:2025-02-12型號:HTRS-1000型瀏覽量:1472
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