描述：BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的設(shè)備，是國(guó)家材料計(jì)劃中前沿裝備其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間
2025-03-19
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BKTEM-D1熱電性能分析系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率，電阻率，V-1裝置

產(chǎn)品介紹：

BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的設(shè)備，是國(guó)家材料計(jì)劃中前沿裝備其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

一、適用范圍：

1、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

5、擁有自身分析軟件，獨(dú)立分析，過程自動(dòng)控制，界面友好。

6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.

二、技術(shù)特點(diǎn)：

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。

每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.
采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。
三：主要技術(shù)：

測(cè)量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量：1個(gè)，2個(gè)，3個(gè) 可選

控溫精度：0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃）

測(cè)量原理：塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法

測(cè)量范圍：塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm

測(cè)量精度：塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％

樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm

電流: 0 to 200 Ma

氣氛：0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：?jiǎn)蜗啵?20V，

夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W

溫度檢測(cè)：采用J、K型熱電偶

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